Montaż QFN/BGA to najtrudniejsze technicznie obudowy SMT - wszystkie połączenia lutownicze są schowane pod komponentem, niewidoczne podczas standardowej inspekcji optycznej. Każdy błąd (head-in-pillow, short, pad lifting, void) wymaga rentgena do wykrycia. Nasza linia jest specjalnie skalibrowana pod fine-pitch QFN/BGA: stencile step-down z laser-cut aperture, zoptymalizowane profile reflow z atmosferą N2, X-ray Nordson Dage XD7600NT z 2D + 3D CT inspekcją 100% sztuk dla każdego BGA i QFN.

Obsługujemy obudowy od najmniejszych WLCSP 0.35 mm pitch (typowo w smartphonach i wearables), przez CSP, μBGA, fine-pitch BGA 0.4-0.5 mm, QFN 0.4-0.5 mm pitch z exposed pad termicznym, aż po duże BGA 1.0-1.27 mm dla CPU/GPU/FPGA o wymiarach do 55×55 mm. Standard kontroli jakości: void content < 25% dla każdego balla BGA (IPC-7095 Class 2), < 9% dla Class 3. Każdy BGA przechodzi X-ray 100%, a wybrane elementy krytyczne (CPU/SoC) - dodatkowo 3D CT scan z analizą każdego ball-by-ball.

Dla aplikacji krytycznych (medyczne, lotnicze, automotive ASIL) oferujemy rebаling BGA - jeśli oryginalny komponent ma wątpliwą jakość lub stary date-code z ryzykiem oksydowania balls, możemy przeprowadzić proces re-balling z nowymi kulkami SAC305 i pełnym X-ray verification. Wszystko z dokumentacją procesową - dla branż wymagających pełnej traceability.